智能化β、γ表面污染检测仪 JB4040
简介 
 适用于低水平β、γ辐射表面污染检测，同时也适用与X、γ辐射剂量率的监测。仪器采用进口盖革探测器，具有较高的探测效率；是环境实验室、核医学、分子生物学、放射化学、核原料运输、储存和商检等领域进行β辐射表面污染检测或X，γ辐射防护监测的理想仪器，该仪器采用单片机控制，LCD液晶显示，读数清晰、操作方便。 
智能化β、γ表面污染检测仪 JB4040特点 
GM探测器阵列，探测效率高 
便携式设计，重量轻 
单片机控制，软件功能强       
LCD液晶显示，会话式操作界面 
计数率显示CPM、CPS、μSv/h                
电池失效报警                         

智能化β、γ表面污染检测仪技术指标 
计数范围：1～106 
探测器面积：25cm2 
灵 敏 度：≥500 CPM/μSv/h 
剂量率范围：0.01～200.00μSv/h 
仪器本底：每分钟计数≤130 CPM 
相对误差：测量范围内相对基本误差≤20% 
供电电源：2节1.5v普通5号电池，整机电流≤50mA 
温度范围：-10℃～45℃ 
湿度范围：相对湿度≤90%（40℃） 
尺寸重量：0.64kg;23×13×4.5（cm） 

产品名称：冲击校正器 产品型号：QCJ—X

 依据GB/T 1732-93设计制造。校正器是漆膜冲击器的附属仪器。
适用于冲击器定期校正之器具。
设备仪器：
(1) 金属环：外径Ø30mm内径Ø10mm厚3±0.05mm
(2) 金属片：30mm×50mm厚1±0.05mm
(3) 塞尺一套。