型号：KDB-1A
更新时间：2020-06-20 | 阅读：860
详情介绍
杂质浓度测试仪
产品简介
原理：根据硅、锗单晶的迁移率、电阻率和杂质浓度的关系，可直接测量、计算出晶体内的杂质浓度。
杂质浓度测试仪适用范围：它适合于测量横截面尺寸是可测量的，而且棒的长度大于横截面线度的有规则的长棒，例如横断面为圆形、正方形、长方形或梯形的单晶或多晶锭
用途：根据测量沿锭长杂质浓度的分布状况决定产品的合格部分，通过杂质浓度的直接测量，决定晶体生长过程中的掺杂数量。
样品可在常温或低温下测量。
显示方式：仪器连接PC机，通过测试软件计算，用对数坐标的方式来显示杂质浓度（含次方数）沿锭长的分布曲线，可对曲线图进行打印和保存。
测量范围： 可测晶体电阻率：0.005-3000Ω·cm。
直流数字电压表测量范围：0-199.99mV，灵敏度：10μA。
实验室光电浊度仪 台式光电浊度仪 型号：WZT-3AS 1.WZT系列光电浊度仪用途概述:Summary of functions
3.仪器特点：Product Characteristic ◇ 外高雅大方，操作及显示角度,适合现代化实验室环境。 ◇ 微电脑数据处理，校准数据保存功能，校准后可长期使用，触摸式键盘。Rs232数据输出通讯接口。 ◇ 采用LCD背光液晶显示浊度, 日期时间显示功能, 具有打印功能（可配接打印机需另购,订货前说明）。 ◇ *的定位结构及高精度的光路系统，有效保证测量值的正确性及重复性。仪器能长时间稳定工作。 ◇ 宽广的测量范围，精准的显示示值，能满足特种浊度分析、低浊度分析、不稳定浊度分析及适合于各行业使用。 ◇ 精确的量程自动切换装置，及其可靠的线性补偿系统，使得测量数据更准确、稳定性更好。 ◇ 增加了色度补偿系统，有效的避免试样顏色引起的干扰，能正确反映浊度的概念。 ◇ 采用高质量的进口集成电路和光电检测元件，有较高的整机稳定性。 ◇ 特制高效稳定长寿命光源系统，测量可达10万小时，免维护使用，无更换之忧虑。
恒温金属浴 试管恒温仪型号：SG-24 恒温金属浴又称试管恒温仪是在原恒温水浴基础上新研制的新一代试管恒温仪。仪器的加热块采用铝合金挤压成型，具有热 容量大、热阻小、加热均匀等特点。 仪器采用智能型数字显示温度，随意设定、自动恒温、使用方便。 仪器设有数显定时装置，用户可在0-999小时内任意调节计时时间。
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