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导热系数测试仪DRX-I-RX
参考价:

型号:DRX-I-RX

更新时间:2020-06-18  |  阅读:1354

详情介绍

导热系数测试仪DRX-I-RX

主要测试定形隔热耐火制品,粉状料等材料的导热系数。非金属固体材料导热系数,仪器参考标准:GB5990 -86《定形隔热耐火制品导热系数试验方法(法)》。GB/T 10297-1998《非金属固体材料导热系数的测定(法)》,GB/T 17106-1997《热耐材料导热系数试验方法(平行法)》。该仪器集交叉和平行于一体,合理的设计,由计算机实现全自动测试。  
导热系数测试仪 1.导热系数测试范围:                                 
        交叉0.015~1.7w/m·k                                   
        平行:0.015—20 w/m·k                             
    2.准确度±5%                                
    3.高温度1000℃,1400℃,1600℃。  
    4.试样尺寸要求:大230×114×65(mm)  
    5.计量加热功率可调节,也可有计算机控制。  
    6.同时实现交叉和平行法测试。  
    7.由计算机实现全自动测试。

导热系数测试仪DRX-I-RX

 

 

 

 

产品名称:工业ORP计 ORP在线检测仪 
产品型号:ORP-210

工业ORP计  ORP在线检测仪   型号:

ORP-210工业ORP计  智能化升级产品。可对污水pH值进行连续测量和控制,具有中文界面,语言化菜单,可进行pH/ORP和温度的测量,可设置成温度自动补偿或手动补偿pH高限报警,低限报警双路继电器,迟滞量可自由调整,仪表模式隔离变送端口,大环路电阻大于300Ω, 声讯报警可开关功能,通过界面选项设定开或关,液晶背光可选择节能模式,定时自动关闭,高性能CPU, 良好的电磁兼容性能,密码管理功能,防止非专业人员的误操作。 

适用于城市污水处理厂、化工、印染、造纸、制药、电镀以及环保等 
【测量范围】 pH(0–14 pH) 
                    ORP( -1999 - +1999 mV) 
【准  确  度】 + 0.02 pH 
                     + 1 mV 
【分  辨  率】 0.01pH; 1mV 
【稳  定  性】≤ 0.02 pH/24小时 
                    ≤ 3 mV/24小时 
【pH标准溶液】4.01/6.86/9.18 
【显示方式】128 * 64大屏幕点阵LCD 
【温度补偿】0–100 ℃ 手动/自动(NTC10K)  
【信号输出】4-20mA隔离保护输出 大环路电阻300Ω 
【报警输出】高低限报警触点各一组(3A/250V AC) 
                   常开触点继电器 
【供电电源】AC 220V±10%  50Hz 
【电源消耗】≤3W 
【环境条件】(1)温度0 ~ 60 ℃  
                   (2)湿度≤85%RH 
【外形尺寸】96×96×110mm(高×宽×深) 
【开孔尺寸】92×92mm(高×宽)

 

 

 

 

 

 

 

热线法导热系数测试仪 型号:DRX-I-RX

主要测试定形隔热耐火制品,粉状料等材料的导热系数。非金属固体材料导热系数,仪器参考标准:GB5990 -86《定形隔热耐火制品导热系数试验方法(热线法)》。GB/T 10297-1998《非金属固体材料导热系数的测定(热线法)》,GB/T 17106-1997《热耐材料导热系数试验方法(平行热线法)》。该仪器集交叉热线和平行热线于一体,合理的设计,由计算机实现全自动测试。  
    1.导热系数测试范围:  
        交叉热线0.015~1.7w/m·k  
        平行热线:0.015—20 w/m·k  
    2.准确度±5%  
    3.Z高温度1000℃,1400℃,1600℃。  
    4.试样尺寸要求:Z大230×114×65(mm)  
    5.计量加热功率可调节,也可有计算机控制。  
    6.同时实现交叉热线和平行热线法测试。  
    7.由计算机实现全自动测试。

 

 

 

 

 

 

 

 

数字式四探针电阻率测试仪型号:SX1944

产品说明   
    四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置。广泛用于半导体厂家、太阳能行业,还能满足科研单位的精密研究。    
产品特点   
   四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M 标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)测试仪器。    
  仪器以大规模集成电路为核心部件,采用旋扭式开关控制,及各种工作状态LED指示。应用微计算机技术,使得测量读数更加直观、快速。整套仪器体积小、功耗低、测量、测试速度快、稳定性好、易操作。   
 型号SX1944 
测量范围电阻率:10-4~105Ω-cm 方块电阻:10-3~106Ω/□ 电阻:10-4~105Ω 
可测半导体材料尺寸直径:Φ15~100mm 
测量方位轴向、径向均可 
数字电压表⑴量程: 200mV 
⑵误差:± 0.1% 读数± 2 字 
⑶大分辨力:10μV 
显示 : 4位半数字显示。小数点自动显示 

数控恒流源⑴电流输出:直流电流 0 ~ 100mA 连续可调,由交流电源供电。 
⑵量程: 1 μ A , 10 μ A , 100μA , 1mA , 10mA , 100mA 
⑶误差:± 0.5% 读数± 2 字 

四探针测试探头⑴探 针 间 距: 1mm 
⑵探针机械游移率: ± 1.0% 
⑶探 针: 碳化钨,Φ 0.5mm 
⑷压 力: 0 ~ 2kg 可调 , 大压力约 2kg 

电源输入 : AC 220V ± 10% 50Hz 功 耗: <20W 
外形尺寸主机 260mm (长)× 210 mm (宽)× 125mm (高) 
备注USB 接口,配软件

 


 

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