电子薄膜应力分布测试仪

该产品主要应用在微电子、光电子生产线上和科研、教学等领域Si、Ge、GaAs等半导体基片及电子薄膜应力分布、光学零件面形和平整度面形、 基片曲率

电子薄膜应力分布测试仪半径测量测试。该仪器总测量点数多, 能给出全场面型分布结果, 适合于微电子生产线上产品质量的快速检验和微电子生产工艺研究。

仪器基于干涉计量的全场测试原理, 可实时观测面型的分布, 迅速了解被测样品的形貌及应力集中位置, 及时淘汰早期失效产品。

产品名称：纯弯曲梁试验装置 产品型号：XL3416

纯弯曲梁试验装置型号：XL3416

纯弯曲梁试验装置技术参数
一、特点： 
1、移动方便、数字显示、结构简洁、加载方便、测量准确 
2、采用蜗杆机构以螺旋千斤进行加载，操作省力，加载稳定， 
3、刹车脚轮方便移动和固定 
二、组成：  
纯弯曲梁实验装置由实验台+拉压力传感器+标准试件（应变片贴好）组成  
三、实验用途： 
1、纯弯曲梁横截面上正应力的分布规律实验 
2、材料弹性模量E，泊松比µ的测定（选配） 
3、偏心拉伸实验（选配） 
4、压杆稳定实验（选配） 
四、技术参数： 
1、 载荷范围：5000N； 
2、 加载机构作用行程：50mm； 
3、 手轮加载转矩：0～2.6N.m； 
4、 加载速度：0.12mm/转； 
5、 载荷灵敏度：1N； 
6、 过载能力：150%； 
7、 外形尺寸：750×450×1000； 
8、 重量：45kg。